和泰尔科技芯片失效分析主要服务项目包括：

1、芯片开封：去除IC封胶, 同时保持芯片功能的完整无损, 保持 die, bond pads, bond wires乃至lead-frame不受损伤, 为下一步芯片失效分析实验做准备。

2、SEM 扫描电镜 / EDX成分分析：包括材料结构分析/缺陷观察、元素组成常规微区分析、精确测量元器件尺寸等等。

3、探针测试：以微探针快捷方便地获取IC内部电信号。

  镭射切割：以微激光束切断线路或芯片上层特定区域。

4、EMMI侦测：EMMI微光显微镜是一种效率极高的失效分错析工具, 提供高灵敏度非破坏性的故障定位方式，可侦测和定位非常微弱的发光（可见光及近红外光）, 由此捕捉各种元件缺陷或异常所产生的漏电流可见光。

5、OBIRCH应用（镭射光束诱发阻抗值变化测试）：OBIRCH常用于芯片内部高阻抗及低阻抗分析，线路漏电路径分析.利用OBIRCH方法，可以有效地对电路中缺陷定位，如线条中的空洞、通孔下的空洞。通孔底部高阻区等；也能有效的检测短路或漏电,是发光显微技术的有力补充。

6、LG液晶热点侦测：利用液晶感测到IC漏电处分子排列重组,在显微镜下呈现出不同于其它区域的斑状影像, 找寻在实际分析中困扰设计人员的漏电区域（超过10mA之故障点）。

7、定点/非定点芯片研磨。

8、去金球：移除植于液晶驱动芯片 Pad上的金凸块, 保持Pad完好无损, 以利后续分析或rebonding。

9、X-Ray 无损侦测：检测IC封装中的各种缺陷如层剥离、爆裂、空洞以及打线的完整性，PCB制程中可能存在的缺陷如对齐不良或桥接，开路、短路或不正常连接的缺陷，封装中的锡球完整性。

10、SAM (SAT)超声波探伤

可对IC封装内部结构进行非破坏性检测, 有效检出因水气或热能所造成的各种破坏如：

o 晶元面脱层

o 锡球、晶元或填胶中的裂缝

o 封装材料内部的气孔

o 各种孔洞如晶元接合面、锡球、填胶等处的孔洞

王女士 经理

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