实验室配备先进的测试仪器,可提供功率器件4吋、6吋、8吋晶圆和封装后产品全面的电性能测试,包括静态测试、动态测试、热阻测试等项目,为产品研发、生产确认和产品终测提供可靠的测试数据。
设备名称 | 功能 | 试验标准 |
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雪崩能量测试系统 | 雪崩能力测试 | AEC-Q101-004, MIL-STD-750 Method 3470 |
半导体测试系统 | 直流参数测试 | MIL-STD-750 3400 Series |
自动探针测试台 | 芯片参数测试 | Datasheet/Customer Requests |
功率MOSFET栅电组测试仪 | 栅电组测试 | JEDEC Standard JESD24-11 |
功率器件动态参数测试系统 | 动态参数测试 | MIL-STD-750 3400 series |
稳态热阻测试仪 | 分立功率器件参数测试 | MIL-STD-750 Series |
小型温度试验箱 | 温度环境变化的参数测试 | User Specification/Customer Requests |
暂未填写
029-88251977