序号 | 检测 对象 | 项目/参数 | 领域代码 | 检测标准(方法)名称及编号(含年号) | 限制范围 | 说明 |
| | 序号 | 名称 | | | | |
1 | 电容器 | 1 | 电容量测试 | 0418.02 | 《电子及电气元件试验方法》 GJB 360B-2009 | 只测: 电容量:1nF~1000µF (测试条件100Hz~1MHz) | 扩项 |
| | 2 | 损耗角正切 | 0418.02 | 《有可靠性指标的高压多层瓷介电容器总规范》 GJB 1940-1994 | 只测: 损耗角正切:10~1 | |
| | | | | 《有可靠性指标的非固体电解质钽电容器总规范》 GJB 733A-1996 | | |
| | | | | 《有可靠性指标的片式固体电解质钽电容器总规范》 GJB 2283-1995 | | |
2 | 电阻器 | 1 | 电阻 | 0418.01 | 《电子及电气元件试验方法》 GJB 360B-2009 | 只测:1Ω~1MΩ | 扩项 |
| | | | | 《高稳定薄膜固定电阻器总规范》 GJB 1929-1994 | | |
| | | | | 《片式膜固定电阻器通用规范》 GJB 1432B-2009 | | |
3 | 二极管 | 1 | 正向电压V | 0418.03 | 《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 | 只测:V≤5V (测试条件I≤5A) | 扩项 |
| | 2 | 反向漏电流I | 0418.03 | 《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 | 只测:I≤1mA (测试条件V≤500V) | |
4 | 晶体管 | 1 | 晶体管集电极-发射极击穿电压V | 0418.03 | 《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 | 只测:V≤500V | 扩项 |