业务范围:
●表层分析、形态观察
●结构解析、成分分析
●原材料分析、评价
●挥发物分析评价
●洁净室评价
●环境负荷物质分析评价 (RoHS对应、REACH法规)
住化分析中心在与电子零部件和半导体产业的共同发展中,现已推出了许多项成为世界标准的分析方法。
我们运用住化分析中心多年积累的技术和经验,面向电子、电机产业的顾客提供具有高度信赖性的数据。另外,为对应今后持续发展的技术,不断地开发分析检测方法,为提供最先端的分析检测技术而不懈努力。
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ED-XRF ( 能量色散型X射线荧光光谱仪 )
| GC-MS室 ( 气相色谱-质谱联用仪测定室 )
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挥发物测定前处理室
| ATD-GC-MS ( 自动热脱附-气相色谱-质谱联用仪 )
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元素检测
- ICP-AES:电感耦合等离子体发射光谱法
- IC:离子色谱法 [NO2-、NO3-、Cl-、Br-、PO43-、SO42-、F-、I-、SO32-、CN-]
- UV:分光光度法 [比色法检测]
- XRF:X射线荧光光谱法 [固体试样 检测元素:Na~U]
- T-C,N:总有机碳、氮的测定
- XPS:X射线光电子能谱法 [元素的同定、化学结合状态解析]
色谱分析
- GC:气相色谱法 [纯度、杂质的定量分析]
- GC-MS:气相色谱质谱法 [纯度、杂质的定性・定量分析]
- 加热释放气体检测-GCMS法 [化合物的定性分析]
- HPLC:高效液相色谱法 [紫外线检测、光电二极管检测、三维光谱检测]
- GPC:凝胶渗透色谱法 [包含Mw、Mn的检测,不包含Mw、Mn的检测]
洁净室评价
- 洁净室空气检测
- 有机物定性(定量转换) [固体采集-GCMS检测]
- 无机物定量 [液体采集-ICP-AES]
- 离子成分 [液体采集-离子色谱法]
- 采样
化合物的结构解析
- UV-VIS:紫外可见吸收光谱法 [比色检测]
- FT-IR:傅里叶变换红外光谱法 [透过法、反射法、ATR法]
- μ-FT-IR:傅立叶变换红外显微光谱法 [透过法、反射法、ATR法]
- XRD:X-射线衍射法 [结晶面测定等]
- NMR :核磁共振谱法 [1H、13C、19F、31P、29Si等解析]
形态观察・表面检测
- OM:光学显微镜成像 [彩色成像、黑白成像]
- SEM:扫描电子显微镜 [金属薄膜截面观察]
- TEM:透射电子显微镜 [机能性薄膜的表面评价]
- AFM:原子力显微镜 [截面形状、粗糙度、表面凸凹纹理尺寸测试]
- ESEM:环境扫描电子显微镜 [各种生物试样、含水物质、材料的表面形态检测]
- X-射线CT [透视图、三维图像]
组件材料的释放气体检测 (挥发性有机化合物检测)
- 挥发性有机化合物(5项)、甲苯、二甲苯、苯乙烯等、邻苯二甲酸酯类、
对二氯苯类、醛类、挥发性有机化合物定性分析 [加热释放气体检测-GCMS法]
环境有害物质
- RoHS6项:Pb, Cd, Hg, Cr6+, PBBs, PBDEs
- 卤成分:F-, Cl-, Br-, I-
- 简易分析(荧光X射线检测)
- REACH SVHC(高度关注物质) 54项
- 包装材料94/62/EC
- 石棉
- PAHs:多环芳烃
- 邻苯二甲酸盐类(DEHP,DBP,BBP,DNOP,DNHP,DINP,DIDP等)
- 破坏臭氧层的气体(HCFC,Halons,CHC,CFC,HFC,PFC)
暂未填写
021-56778181