失效分析(Failure Analysis or FA)所提供的服务项目
提供客户咨询与讨论
提供客户做IC组件失效分析,EFA(电性故障分析) ,PFA(物性故障分析)等所需
     资源与设备
提供客户一步到位的分析服务
提供第三者公证报告

可协助解决的故障分析的种类
ESD / Latch up / OLT / Pre-condition /Reliability 等测试后的失效分析服务
验退样品分析服务或对产品瑕疵原因之分析服务
C/P , F/T ,PCBA 等流程后之样品分析服务

非破坏性分析
‧高分辨率立体显微镜(3D OM)
‧超声波扫描显微镜(SAT)
‧X射线检测(2D X-ray)
‧焊点检测
‧三纬X-ray断层检测(3D X-ray)

电性测试
‧Keithley 参数分析仪
‧测IV(IV Curve Tracer)
‧Probe测试
‧HP4156 参数分析仪(测IV)
‧TLP ESD保护电路电性特性量测
‧奈米级探针量测(Nano Prober)

竞争力分析
‧数字拍照
‧封装逆向还原工程(Reverse)
‧IC电路反向还原工程(Reverse)
‧竞争力分析

暂未填写

021-61910691